產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚高速LED光學(xué)特性儀 LE series
產(chǎn)品簡介
●與產(chǎn)線的控制信號同步●通過光纖的自由的測試系統(tǒng)●實(shí)現(xiàn)最短2ms～的光譜測量（LE-5400）●同以往的產(chǎn)品相比，測量演算評價1個周期有可到半分鐘以下的高速機(jī)型
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
| 三刺激值（kX, kY, kZ）* | 〔JIS Z 8724〕 |
| 色度坐標(biāo)(u, v) | 〔CIE 1960UCS〕 |
| 色度坐標(biāo)(x, y) | 〔JIS Z 8724〕 |
| 色度坐標(biāo)(u’, v’) | 〔CIE 1976UCS〕 |
| 主波長（Dominant）和刺激純度（Purity） | 〔JIS Z 8701〕 |
| 相關(guān)色溫度和Duv | 〔JIS Z 8725〕 |
| 演色性評價數(shù)（Ra, R1～R15） | 〔JIS Z 8726〕 |
| 峰值（λmax）的波長、高度、半值幅 | |
| 第二峰值的波長和高度 | |
| 積分值（Summation） | |
| 重心波長 | |
| 指zhi定波長的高度 | |
| 相比峰值波長的短波長側(cè)、長波長側(cè)的積分值 |
*亮度(kY)的值，因測量的LED和檢出部的光學(xué)系不同，
只有在校準(zhǔn)(距離、位置、方向)中有再現(xiàn)性時才算有效。
| LE-Series | ||||
| 分光方式 | 光柵分光 F=3 f=135 mm | |||
| 感光元件 | CCD (電子制冷) | |||
| 測量波長范圍 | 380 ~ 960 nm | 300 ~ 800 nm | 330 ~ 1100 nm | 350 ~ 930 nm |
| 波長精度※1 | ±0.3 nm※2 | ±0.3 nm※2 | ±0.5 nm※2 | ±0.3 nm※2 |
| 光纖規(guī)格※3 | 長約2m，金屬包覆，固定口徑約12mm， 與LED間的距離通常為2 ~ 8mm左右(視LED指向性而不同) | |||
| 功率 | 最大100VA | |||
| 尺寸 | 280（H） × 296（D） × 160（W）mm | |||
| 重量 | 約10kg | |||
※1波長校正用光源對汞物理輝線之確認(rèn)值。
※2JIS Z 8724規(guī)格。
※3可變更光纖尺寸、長度
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務(wù)熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄創(chuàng)研智造C7區(qū)301室
Copyright © 2025 上海波銘科學(xué)儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關(guān)于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽(yù)資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術(shù)文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) RU120便攜式拉曼光譜儀
上一個：
返回列表