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TECHNICAL ARTICLES半導體晶圓缺陷檢測儀是一種用于檢測半導體晶圓表面缺陷的設(shè)備
2025-02-11 ?半導體晶圓缺陷檢測儀主要用于檢測半導體晶圓表面的缺陷,確保芯片的質(zhì)量和性能?。這些設(shè)備利用亮場和暗場顯微成像技術(shù),通過自動化的圖像捕捉以及人工智能分析工具,快速且有效地檢測晶圓表面的缺陷,如位錯、顆粒、凹坑、劃痕和污染等?半導體晶圓缺陷檢測儀主要利用光學或電子束技術(shù),通過檢測材料表面的微觀結(jié)構(gòu)和電學特性的異常來識別缺陷。這些缺陷可能包括晶體缺陷(如位錯、晶界)、化學缺陷(如雜質(zhì))、結(jié)構(gòu)缺陷(如孔洞、裂紋)以及工藝缺陷(如氧化層缺陷、光刻缺陷)等。檢測儀通過測量半導體材料或器...光纖飛秒激光器是一種發(fā)揮著重要作用的激光設(shè)備
2024-11-08 ?光纖飛秒激光器?是一種具有飛秒脈沖的激光器,其脈沖持續(xù)時間在飛秒(10^-15秒)量級。光纖飛秒激光器的主要特點包括小型化、便攜化、風冷卻、低成本和穩(wěn)定性高等?。光纖飛秒激光器是以光纖為基質(zhì),能夠產(chǎn)生飛秒量級超短脈沖的激光器。其特點主要包括小型化、便攜化、風冷卻、低成本和穩(wěn)定性高等。這些特點使得光纖飛秒激光器在科學研究和工業(yè)應用中具有廣泛的前景。光纖飛秒激光器通常由增益介質(zhì)、激勵能源和光學諧振腔三部分組成。增益介質(zhì)使受激輻射強度超過受激吸收強度,激勵能源提供必要的能量輸入,...公司郵箱: qgao@buybm.com
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