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準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)-光致發(fā)光可以將QSS準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)少子壽命測試和PL光致發(fā)光技術(shù)相結(jié)合，快速獲得樣品的少子壽命分布圖譜信息。

光致發(fā)光主要對材料能帶結(jié)構(gòu)，雜質(zhì)濃度和缺陷，組分機(jī)理以及材料質(zhì)量進(jìn)行檢測。 WT-2000PL專門針對PL應(yīng)用開發(fā)，具有非接觸，快速，可變溫，光斑等特點。

Semilab PV-2000A是業(yè)界功能最（zui）先進(jìn)的，用于晶硅太陽能電池片生產(chǎn)及光伏工藝研發(fā)的非接觸電學(xué)表征系統(tǒng),以滿足硅片到成品電池片不同工藝控制的測試需求。

LEI Model2017B，通過汞探針接觸方法，對各類半導(dǎo)體材料的載流子濃度分布進(jìn)行測試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。

汞CV測試系統(tǒng)，用于對外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測試; MCV-530L可測最大200mm的樣品。

CV-1500，用于測試界面和介電層的科研平臺，基于SDI Corona-Kelvin技術(shù)，可以進(jìn)行非接觸C-V/I-V測試。